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文件標題 :
Xallent~納米級 探針/探卡半導體和薄膜測試
文件類型 :
pdf
上傳時間 :
2022-03-08 17:58:21
下載次數 :
36
文件大小 :
1.58MB
更新時間 :
2022-03-18 12:55:48
詳細介紹
提高準確性和速度~~
半導體和薄膜測試--更小、更易於使用的探針
微米級和納米級尖端和尖端間距允許快速、準確地探測處於小型化前沿的設備和材料。
適用各大廠牌探針座
Xallent 探針頭可以適用各大廠牌，連接到許多傳統晶圓探針的探針座上：
SIGNATONE ,MPI ,Wentworth Labs，FormFactor……..等
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