搜索
  • 繁體中文
  • English
  • 簡體中文

點擊下載

Download

文件標題 : Xallent~納米級 探針/探卡半導體和薄膜測試
文件類型 : pdf
上傳時間 : 2022-03-08 17:58:21
下載次數 : 36
文件大小 : 1.58MB
更新時間 : 2022-03-18 12:55:48

詳細介紹

提高準確性和速度~~

                                          半導體和薄膜測試--更小、易於使用的探針

              

             


微米級和納米級尖端和尖端間距允許快速、準確地探測處於小型化前沿的設備和材料。

適用各大廠牌探針座

Xallent 探針頭可以適用各大廠牌,連接到許多傳統晶圓探針的探針座上:

SIGNATONE ,MPI ,Wentworth Labs,FormFactor……..等

      

    

SE Technologies,  See Your Needs

歡迎來函/來電諮詢

 info@se-group.com

 +886-3-579-9029

關於我們

聯絡我們

+886-3-579-9029

info@se-group.com

 

諮詢報價

 

SE TECHNOLOGIES  

               See Your Needs!

 

Copyright @SE TECHNOLOGIES CORP.

搜索
圖片展示
在線谘詢

您好,請點擊在線客服進行在線溝通!

聯系方式
熱線電話
400-12346578
上班時間
周一到周五
掃一掃二維碼
二維碼
添加微信好友,詳細了解產品
使用企業微信
“掃一掃”加入群聊
複製成功
添加微信好友,詳細了解產品
我知道了