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GTL5050雙面探測旋轉探針台

GTL5050探測器站是為了解決雙面探測的難題而設計的,而不是試圖用一個垂直安裝的板來探測。
GTL5050實際上是由兩個探測站組成的。上部探測站和底部探測站具有獨特的能力,可將整個探測站旋轉180度,允許快速設置和預配置頂部和底部的探針和測試結構。

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                                  領先於半導體業界信號完整性探針台設備供應商


GTL5050探測器站是為了解決雙面探測的難題而設計的,而不是試圖用一個垂直安裝的板來探測,

GTL5050實際上是由兩個探測站組成的。上部探測站和底部探測站具有獨特的能力,

可將整個探測站旋轉180度,允許快速設置和預配置頂部和底部的探針和測試結構。

使用操縱杆控製的電動定位器可以很容易地進行底部調整。


◢GTL雙面探測旋轉探針台特徵:

■自上而下測量                                                      ■獨特的板夾系統簡易方便容納平面和三維結構,如主機板與子卡

■30英寸x 20英寸測試板                                       ■處理多板互連、BGA封裝、測試插座、接觸器等

■底部變焦鏡頭和CCD相機                                    ■操縱杆控製的遠端定位器(探針座),用於精確的底部探頭放置

■可選的微CCD相機提供視覺訪問和探針放置在有限的空間

■在頂部和底部安裝多個探針定位器,用於串擾測量


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GTL5050雙面探測旋轉探針台
GTL5050探測器站是為了解決雙面探測的難題而設計的,而不是試圖用一個垂直安裝的板來探測。
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