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GTL4060大面積探測平臺

GTL4060大面積探測平臺,信號完整性測試,容納中到大尺寸的測試板、插座、連接器 和器件封裝上的單面測量

                                                  領先於半導體業界信號完整性探針台設備供應商


GTL4060在設計上與GTL4040相似,但提供了一個更大的測試平臺,以容納中到大尺寸的測試板,

但仍提供在較小的板、插座、連接器和子元件上工作的能力,和器件封裝上的單面測量。

GTL4060可搭配兩種顯微鏡配置選項中的一種,分別為;【橋梁式顯微鏡架設】或【自由移動臂樣式】。

◢GTL4060 設備特徵:

■18英吋X24英寸吋平臺                                         ■整體平臺移動行徑:4英吋(X),3英吋(Y)、2英吋(Z)

■可容納多達8座GTL探針座                                   ■可調整鹵素環照明系統強弱度

■滑動壓板具有獨特的鎖定功能                              ■帶立體變焦光學和相機圖像埠的全三目顯微鏡

■真空校準基板支架                                                ■可選擇的多埠真空分配歧管

■校準基板                                                              ■可選高解析度彩色視頻系統,LCD顯示幕,帶多輸入視頻選擇器

■精密型低噪音真空泵                                            ■基礎真空的PCB夾具套件


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GTL4060大面積探測平臺
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