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GTL 40&65系列射頻/微波探針

GTL微波探針用於探測晶圓、封裝、BGA、PCB、插座、背板、高密度互連等,具有優越的電氣性能和無與倫比的耐用性;
GTL探測器具有很高的耐受性,堅固的探針頭允許它們反復針測,並獲取高品質的資料

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GigaTest Labs(GTL)設計和製造了信號完整性行業中最高品質的微波探針,擁有一系列各種間距的款式,以適應用戶不同的需求

專爲PCB板針測(PCB Probing)設計的耐用型射頻/微波探針

GTL -單頭射頻探針

  GTL微波探針用於探測晶圓、封裝、BGA、PCB、插座、背板、高密度互連等,具有優越的電氣性能和無與倫比的耐用性;

  GTL探測器具有很高的耐受性,堅固的探針頭允許它們反復針測,並獲取高品質的資料

 

◢深通道射頻探針(DA

  GTL微波探針是器件表徵和建模的完美工具,GTL探測器具有很高的耐受性,堅固的探針頭允許它們反復針測並獲取高品質的資料。

  深通道射頻探頭(DA)其的特點是更高的間隙和更長的形體,允許用戶探測更深入;

  這款DA探針體設計允許在探針頭支架上旋轉,使探針體可達到的探測範圍更廣。

◢雙射頻探針

  GTL獨特的射頻雙探針設計,因為它有兩個探針頭安裝在一個形體支架上,並允許信號到信號的間距變化;

  一個探針頭固定在探頭體上,另一個是可調的,以提供不同的信號到信號間距。


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