RTI-IC test socket,為小型設備(如BGA、LGA、QFN、QFP、WLCSP、CSP、裸晶片等)設計和構建測試插座
擁有各式各樣的測試插座來支援使用者指定的測試應用程式,包括ATE,老化,特性描述,設備程式設計,故障分析,生產測試...等等
Robson Technologies, Inc(RTI)
專為半導體及高科技行業設計提供定製測試解決方案
RTI於1989年開始為半導體行業設計和構建定製測試解決方案,在半導體市場有豐富的經驗,設計和製造先進的測試插座,夾具,
以及半導體製造商要求的其他解決方案定製化設計IC test socket,為小型設備(如BGA、LGA、QFN、QFP、WLCSP、CSP、裸晶片等)設計和構建測試插座
擁有各式各樣的測試插座來支援使用者指定的測試應用程式,包括ATE,老化,特性描述,設備程式設計,故障分析,生產測試...等等
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