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RTI-- IC 測試夾具
RTI-IC test socket，為小型設備（如BGA、LGA、QFN、QFP、WLCSP、CSP、裸晶片等）設計和構建測試插座
擁有各式各樣的測試插座來支援使用者指定的測試應用程式，包括ATE，老化，特性描述，設備程式設計，故障分析，生產測試...等等
Robson Technologies, Inc（RTI）
專為半導體及高科技行業設計提供定製測試解決方案
RTI於1989年開始為半導體行業設計和構建定製測試解決方案，在半導體市場有豐富的經驗，設計和製造先進的測試插座，夾具，
以及半導體製造商要求的其他解決方案定製化設計IC test socket，為小型設備（如BGA、LGA、QFN、QFP、WLCSP、CSP、裸晶片等）設計和構建測試插座
擁有各式各樣的測試插座來支援使用者指定的測試應用程式，包括ATE，老化，特性描述，設備程式設計，故障分析，生產測試...等等
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