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納米級 探針/探卡
創新的納米機電系統(NEMS)和MEMS多尖端探針能夠在微尺度和納米尺度上表徵材料和器件，提供前所未有的產量、多功能性和易用性。
探針尖端顯著減小了寬度、間距和尖端表面積；允許快速、準確地探測設備。
納米級 探針/探卡 加速您的生產效能
創新的納米機電系統(NEMS)和MEMS多尖端探針能夠在微尺度和納米尺度上表徵材料和器件，提供前所未有的產量、多功能性和易用性。
Xallent製造的參數化探針技術：
● 多個探針集成在一個芯片基板上
● 芯片連接到PCB上，形成探針卡
● 探針尖端顯著減小了寬度、間距和尖端表面積，實現IC設計，具有小40倍的test pad pitch
● 多專案晶圓(MPW)中降低模具成本
● 彈簧承載的探針尖端支援探測3D結構和溝槽
●允許快速、準確地探測設備。
Xallent 專為各項技術領域應用設計開發提供—【納米級 探針/探卡】探測解決方案
Xallent 探針頭可以適用各大廠牌；連接到許多傳統晶圓探針的探針座上
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