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納米級 探針/探卡

創新的納米機電系統(NEMS)和MEMS多尖端探針能夠在微尺度和納米尺度上表徵材料和器件,提供前所未有的產量、多功能性和易用性。
探針尖端顯著減小了寬度、間距和尖端表面積;允許快速、準確地探測設備。

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納米級 探針/探卡 加速您的生產效能

創新的納米機電系統(NEMS)和MEMS多尖端探針能夠在微尺度和納米尺度上表徵材料和器件,提供前所未有的產量、多功能性和易用性。

Xallent製造的參數化探針技術:

●  多個探針集成在一個芯片基板上

●  芯片連接到PCB上,形成探針卡

●  探針尖端顯著減小了寬度、間距和尖端表面積,實現IC設計,具有小40倍的test pad pitch

●  多專案晶圓(MPW)中降低模具成本

●  彈簧承載的探針尖端支援探測3D結構和溝槽

●允許快速、準確地探測設備。


Xallent 專為各項技術領域應用設計開發提供—【納米級 探針/探卡】探測解決方案

Xallent 探針頭可以適用各大廠牌;連接到許多傳統晶圓探針的探針座上


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