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微奈米級四探針電阻率測量系統
Xallent四點探針可直接測量薄膜材料的薄層電阻和電阻率;
Xallent四點探針和納米探針可用於提取新型材料的電性能,如:石墨烯、二硫化鉬、其他2D和拓撲材料。
與Xallent探針頭或探針相結合，四點探針可在微尺度和奈米尺度上實現快速、經濟高效的自動樣品標測.
微奈米級四探針電阻率測量系統--4-Point Probe
Xallent四點探針可直接測量薄膜材料的薄層電阻和電阻率
Xallent的四點探針幫助材料研究人員解決了關鍵問題
◢ 特點：
● 無需樣品製備：
消除了在進行電測試之前使用昂貴且破壞性的光刻、蝕刻和沉積技術在薄膜上圖案化和沉積金屬電極的需要
● 易於接觸有效測試：
小尺寸的探針為在微奈米尺度上快速有效地測試材料開闢了新的領域。
● 解析度：
Xallent的細間距四點探頭提供了必要的空間解析度，以揭示材料的表面導電性分佈，從而實現可靠性和產量 的目標優化。
◆ Xallent的4點探針技術：
● 將4個彈簧探針集成在單個芯片襯底上
● 芯片由XYZ定位器找到確定的位置和方向
● 4個探針尖端同時與樣品表面接觸
● 使用單個定位器移動4個探頭，可增加測量產量；並消除檢測過程中探頭之間的碰撞
Xallent四點探針和納米探針可用於提取新型材料的電性能,如:石墨烯、二硫化鉬、其他2D和拓撲材料；
與Xallent探針頭或探針相結合，四點探針可在微尺度和奈米尺度上實現快速、經濟高效的自動樣品標測。
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