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可調式主機測試夾具
適用於 FET 晶片, 雙極晶片, MMIC 晶片, 封裝電晶體, 表面貼裝元件等；
S-parameter 量測的理想選擇，可進行高達 40 GHz 的微波量測。
夾具可容納各種連接器轉換，以適應各種頻段和環境。
ICM 可調式主架測試夾具系列為微波半導體量測提供高度彈性的測試平台，例如 S 參數、雜訊數值等。
兩個 RF 發射器均可在 Y 軸和 Z 軸上進行調整，以適應具有偏移和不同基板厚度的 DUT。
◆ 特 點
- 適用於 FET 晶片、雙極晶片、MMIC 晶片、封裝電晶體、表面貼裝元件等
- S-parameter 量測的理想選擇
- 使用 TRL 校正標準
- 提供高度彈性的平台，可進行高達 40 GHz 的微波量測
- 可容納各種連接器轉換，以適應各種頻段和環境
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