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多接觸楔形探頭--用於直流和射頻探測
Multi Contact Wedge Probes for DC and RF probing
多觸點楔塊可根據電路定製配置，進而提高晶片設計靈活性; 可同時使用四個楔塊探測整個晶片。
Sample: Multi-Contact Wedge with three 40 GHz probes and Five DC needles
S-MCW-RF 型號
▓ 耐用 ▓ 直流至 40、50、67 或 110 GHz
▓ 射頻和直流混合 ▓ 每側最多可連接 9 個射頻探頭
▓ 適用於 MMIC 或模組探測 ▓ 獨立彈簧加載觸點
▓ 經濟, 快速, 客製化製造 ▓ 每個楔塊均根據您的佈局定製
▓ 專利的同軸設計
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歡迎來函谘詢定製專屬探針
+886-3-579-9029
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