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射頻微波探針SP-120BT

射頻微波探針SP-120BT
■ 耐用型,頻率範圍 75 GHz 至 110 GHz
■插入損耗最大 1.75 dB(75 至 110 GHz)
■ 回波損耗最大 15 dB(75 至 110 GHz)
■ 獨立彈簧加載觸點
■ 測量重複性 -50 dB
■ 可選配偏置 T 型
■ 專利同軸設計

探針可配置為G-S-G, G-S 或S-G 三種尖端佈局;可指定 50 微米至 450 微米之間的任意間距(尖端間距)

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High Performance Microwave Probes for RF probing

Model SP-120BT


SP-120BT 型號採用獨立彈簧加載的鈹銅探針,即使在探測非平面結構時也能提供可靠的接觸。這種可靠的低電阻接觸是實現W波段頻率下高度可重複測量(-50 dB)的關鍵之一。

可指定 50 微米至 450 微米之間的任意間距(尖端間距);

探針可配置為接地-訊號-接地 (G-S-G), 接地-訊號 (G-S) 或訊號-接地 (S-G) 三種尖端佈局

建議使用較小的間距和 G-S-G 佈局以獲得最佳效能


■ 耐用型,頻率範圍 75 GHz 至 110 GHz■ 獨立彈簧加載觸點
插入損耗最大 1.75 dB(75 至 110 GHz)■ 回波損耗最大 15 dB(75 至 110 GHz)
■ 測量重複性 -50 dB■ 可選配偏置 T 型
■ 專利同軸設計


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射頻微波探針SP-120BT
射頻微波探針SP-120BT
■ 耐用型,頻率範圍 75 GHz 至 110 GHz
■插入損耗最大 1.75 dB(75 至 110 GHz)
■ 回波損耗最大 15 dB(75 至 110 GHz)
■ 獨立彈簧加載觸點
■ 測量重複性 -50 dB
■ 可選配偏置 T 型
■ 專利同軸設計

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