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射頻微波探針SP-500BT

射頻微波探針SP-500BT
■ 耐用; 325 GHz 至 500 GHz
■ 插入損耗 4 dB(典型值); 回波損耗 15 dB(典型值)
■ 獨立彈簧加載觸點
■ 可選配偏置 T 型開關
■ 堅固的同軸設計
■ 柔性探針,適用於靈活探測
探針可配置接地-訊號-接地 (G,S,G)、接地-訊號 (G,S) 或訊號-接地 (S,G) 三種尖端封裝; 建議使用 G,S,G 封裝以獲得最佳效能。

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High Performance Microwave Probes for RF probing

Model SP--500BT


SP-500BT 型號在微波探測性能方面樹立了新的標竿。得益於同軸技術固有的低損耗和低色散特性,

SP-500BT 型號在其頻率範圍內實現了小於 4.0 dB 的插入損耗和大於 15 dB 的回波損耗

允許直接觀察探針尖端,以便進行精確定位; 探針間距(尖端間距)可任意選擇,但建議使用 25 至 55 微米。探針可配置接地-訊號-接地 (G,S,G)、接地-訊號 (G,S) 或訊號-接地 (S,G) 三種尖端封裝;

建議使用 G,S,G 封裝以獲得最佳效能。


■ 耐用■ 325 GHz 至 500 GHz
■ 插入損耗 4 dB(典型值)■ 回波損耗 15 dB(典型值)
■ 獨立彈簧加載觸點■ 可選配偏置 T 型開關
■堅固的同軸設計■ 柔性探針,適用於靈活探測


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■ 耐用; 325 GHz 至 500 GHz
■ 插入損耗 4 dB(典型值); 回波損耗 15 dB(典型值)
■ 獨立彈簧加載觸點
■ 可選配偏置 T 型開關
■ 堅固的同軸設計
■ 柔性探針,適用於靈活探測
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