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高性能雙微波射頻探測探針

高性能雙微波射頻探測探針
■ 一個定位器上安裝兩個探頭
■ 接地端到訊號端的間距為 50 至 2540 微米
■ 訊號端到訊號端的間距可由使用者調節
■ 專利同軸設計
■ 提供兩埠、三埠和四埠校準的差分校準基板
■ 柔性探頭,適用於柔性探測

雙探頭微波探頭由安裝在同一支架上的兩個獨立探頭組成。一個探頭固定在支架上,另一個探頭可調整。每個探頭均可單獨配置 GSG、GS 或 SG 封裝,固定間距範圍為 50 至 2540 微米。探頭間距(訊號間距)可在 4000 微米(160 mil)範圍內由使用者調節

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High Performance Dual Microwave Probes for RF probing

雙探頭微波探頭由安裝在同一支架上的兩個獨立探針頭組成。一個探針頭固定在支架上,另一個探針頭可調整。每個探頭均可單獨配置 GSG、GS 或 SG 封裝,固定間距範圍為 50 至 2540 微米。探頭間距(訊號間距)可在 4000 微米(160 mil)範圍內由使用者調節。


■  一個定位器上安裝兩個探針頭■  接地端到訊號端的間距為 50 至 2540 微米
■  訊號端到訊號端的間距可由使用者調節■  效能與 SP-40、SP-50、SP-67 和 SP-110H 型號的單一探針相同
■  專利同軸設計■  提供兩埠、三埠和四埠校準的差分校準基板
■  柔性探針,適用於柔性探測

間距:以微米為單位指定接地 (G) 到訊號 (S) 尖端的間距,範圍為 50 至 1250 微米。對於標準 GSG 探頭,兩個間距相等。

對於大於 1250 微米的間距或特殊的尖端位置和間距,請聯係工廠

例如,雙探針型號:SP-D40-GSG-150 /D40-SG-150-D-300

左側探針以 GSG 封裝,接地線和訊號線之間的距離為 150 微米。

右側探針採用 SG 封裝,接地線和訊號線之間的距離為 150 微米。

左側探針訊號線與右側探針訊號線之間的間距為 300 微米。


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■ 一個定位器上安裝兩個探頭
■ 接地端到訊號端的間距為 50 至 2540 微米
■ 訊號端到訊號端的間距可由使用者調節
■ 專利同軸設計
■ 提供兩埠、三埠和四埠校準的差分校準基板
■ 柔性探頭,適用於柔性探測

雙探頭微波探頭由安裝在同一支架上的兩個獨立探頭組成。一個探頭固定在支架上,另一個探頭可調整。每個探頭均可單獨配置 GSG、GS 或 SG 封裝,固定間距範圍為 50 至 2540 微米。探頭間距(訊號間距)可在 4000 微米(160 mil)範圍內由使用者調節
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