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通用陣列 IC 測試插座
多功能通用陣列測試插座
專為BGA, LGA, WLCSP, 晶片級封裝和其他具有相同間距但引線框架尺寸不同的陣列 IC 封裝而設計; 支援多種封裝進行精確, 高效的測試
準備好簡化您的測試流程了嗎？
多功能通用陣列測試插座
專為BGA, LGA, WLCSP, 晶片級封裝和其他具有相同間距但引線框架尺寸不同的陣列 IC 封裝而設計;
支援多種封裝進行精確, 高效的測試
◆特色
- 多功能性
支援具有通用間距的BGA, LGA, WLCSP和晶片級封裝；極細間距低至≤ 0.3mm - 客製化與精確對準
特定於裝置的對準功能透過將被測元件(DUT)與引腳陣列的A1角完美對準來確保準確的測試 - 蓋子選擇
用於快速封裝切換可調夾式蓋, 用於故障分析的開頂旋緊蓋,WLCSP 裝置的藍寶石窗蓋….等
- 成本效率
歡迎來電/來函諮詢更多定製訊息
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