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GTL 40&65系列射频/微波探针
GTL微波探針用於探測晶圓、封裝、BGA、PCB、插座、背板、高密度互連等，具有優越的電氣性能和無與倫比的耐用性；
GTL探測器具有很高的耐受性，堅固的探針頭允許它們反復針測，並獲取高品質的資料
GigaTest Labs（GTL）设计和制造了信号完整性行业中最高质量的微波探针，拥有一系列各种间距的款式，以适应用户不同的需求
专为PCB板针测（PCB Probing）设计的耐用型射频/微波探针
◢GTL -单头射频探针
GTL微波探针用于探测晶圆、封装、BGA、PCB、插座、背板、高密度互连等，具有优越的电气性能和无与伦比的耐用性；
GTL探测器具有很高的耐受性，坚固的探针头允许它们反复针测，并获取高质量的数据
◢深通道射频探针（DA）
GTL微波探针是器件表征和建模的完美工具，GTL探测器具有很高的耐受性，坚固的探针头允许它们反复针测并获取高质量的数据。
深通道射频探头（DA）其的特点是更高的间隙和更长的形体，允许用户探测更深入;
这款DA探针体设计允许在探针头支架上旋转，使探针体可达到的探测范围更广。
◢双射频探针
GTL独特的射频双探针设计，因为它有两个探针头安装在一个形体支架上，并允许信号到信号的间距变化;
一个探针头固定在探头体上，另一个是可调的，以提供不同的信号到信号间距。
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