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GTL5050双面探测旋转探针台
GTL5050探测器站是为了解决双面探测的难题而设计的，而不是试图用一个垂直安装的板来探测。
GTL5050实际上是由两个探测站组成的。上部探测站和底部探测站具有独特的能力，可将整个探测站旋转180度，允许快速设置和预配置顶部和底部的探针和测试结构
领先于半导体业界信号完整性探针台设备供货商
GTL5050探测器站是为了解决双面探测的难题而设计的，而不是试图用一个垂直安装的板来探测，
GTL5050实际上是由两个探测站组成的。上部探测站和底部探测站具有独特的能力，
可将整个探测站旋转180度，允许快速设置和预配置顶部和底部的探针和测试结构。
使用操纵杆控制的电动定位器可以很容易地进行底部调整。
◢GTL双面探测旋转探针台特征：
■自上而下测量 ■独特的板夹系统简易方便容纳平面和三维结构，如主板与子卡
■30英寸x 20英寸测试板 ■处理多板互连、BGA封装、测试插座、接触器等
■底部变焦镜头和CCD相机 ■操纵杆控制的远程定位器（探针座），用于精确的底部探头放置
■可选的微CCD相机提供视觉访问和探针放置在有限的空间
■在顶部和底部安装多个探针定位器，用于串扰测量
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