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微纳米探测测量硬件和软件工具

Author:SE TECHNOLOGIES


Xallent INC.设计、开发、制造和销售最先进的微纳米探测测量硬件和软件工具。

随着电子行业将设计前沿推到5 nm3 nm1 nm高级节点,Xallent技术使业界领先的研究实验室和生产设施能够以更高的精度、速度和更低的成本显著提高其测量和分析能力。

纳米探针/探卡 产品应用于:

微薄板电阻测试(10μm间距)/   MicroLED测试(20μm间距)

Xallent 专为各项技术领域应用设计开发提供【纳米级 探针/探卡】探测解决方案---

Xallent 探针头可以适用各大厂牌连接到许多传统晶圆探针的探针座上


欢迎来电/ /來函諮詢

+86-21-3214-0732

 info@se-group.com

微纳米探测测量硬件和软件工具
Xallent INC.设计、开发、制造和销售最先进的微纳米探测测量硬件和软件工具。 Xallent的专利探针卡、探针头和晶圆探针用于半导体器件和薄膜材料的成像、电气和机械测试中要求最苛刻的应用。
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