- English
- 简体中文
- 繁體中文
可调式主机测试夹具
适用于 FET 芯片, 双极芯片, MMIC 芯片, 封装晶体管, 表面贴装组件等；S-parameter 量测的理想选择，可进行高达 40 GHz 的微波量测。
夹具可容纳各种连接器转换，以适应各种频段和环境。
ICM 可调式主架测试夹具系列为微波半导体量测提供高度弹性的测试平台，例如 S 参数、噪声数值等。
两个 RF 发射器均可在 Y 轴和 Z 轴上进行调整，以适应具有偏移和不同基板厚度的 DUT。
◆ 特 点
- 适用于 FET 芯片, 双极芯片, MMIC 芯片, 封装晶体管, 表面贴装组件等
- S-parameter 量测的理想选择
- 使用 TRL 校正标准
- 提供高度弹性的平台, 可进行高达 40 GHz的微波量测
- 可容纳各种连接器转换，以适应各种频段和环境
欢迎来电/ 来函咨询----
利用CAD/CAM, 我们将定制属于您专属的测试夹具解决方案，以满足您的需求
SE Technologies, See Your Needs！
info@se-group.com / (021)3214-0732
Copy product links
Long by picture save/share
INQUIRY
Add Successfully
INQUIRY
Add Successfully
Copyright @SE TECHNOLOGIES CORP.
客服1
客服2