- English
- 简体中文
- 繁體中文
多接触楔形探针
多接触楔块可根据您的电路进行客制化配置, 从而提高芯片设计的灵活性;
可同时使用四个楔块探测整个芯片。
直流, 电源或中频针头有多种不同的接线配置可供选择
多接触楔形探头--用于直流和射频探测
Multi Contact Wedge Probes for DC and RF probing
多触点楔块可根据电路定制配置，进而提高芯片设计灵活性; 可同时使用四个楔块探测整个芯片。
Sample: Multi-Contact Wedge with three 40 GHz probes and Five DC needles
S-MCW-RF 型号
▓ 耐用 ▓ 直流至 40, 50, 67 或 110 GHz
▓ 射频和直流混合 ▓ 每侧最多可连接 9 个射频探头
▓ 适用于 MMIC 或模块探测 ▓ 独立弹簧加载触点
▓ 经济, 快速, 客制化制造 ▓ 每个楔块均根据您的布局定制
▓ 专利的同轴设计
SE Technologies, See Your Needs！
欢迎来函咨询定制专属探针
+86-21-3214-0732
Copy product links
Long by picture save/share
INQUIRY
Add Successfully
INQUIRY
Add Successfully
Copyright @SE TECHNOLOGIES CORP.
客服1
客服2