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GigaTest 客制化测试夹具
GTL 客製化測試夾具
針對半導體封裝和測試接觸器等常用的高速元件, GTL開發了一款客製化測試夾具, 可根據 GigaTest 的方法和要求, 使用高頻寬微探針測量幾乎任何 I/O 引腳。
GTL 客製化測試夾具, 通常為雙層或多層精密PCB,並帶有用於連接被測元件 (DUT) 的安裝焊盤。
GigaTest 客制化测试夹具
针对半导体封装和测试接触器等常用的高速组件, GTL开发了一款客制化测试夹具, 可根据 GigaTest 的方法和要求, 使用高带宽微探针测量几乎任何 I/O 引脚。
GTL 客制化测试夹具, 通常为双层或多层精密PCB,并带有用于连接被测组件 (DUT) 的安装焊盘。
▓ 应用于BGA封装, 样品焊接到电路板上;
▓ 对于弹簧针接触器和测试插座，样品用螺丝固定，并透过对准孔确保与夹具正确接触。
▓ 从测试板的“背面”进行探测，其中过孔焊盘周围有接地平面
▓ 此探针引入设计用于兼容 450μ 间距的 接地/讯号探针, 并为 TDR 和 VNA 测量提供非常好的讯号引入。
这些夹具还配有通孔测量试片，用于消除 PCB 对测量结果的影响。
可用测试夹具
▓ 接触器/插座：0.5mm, 0.65mm, 0.75mm, 0.8mm, 1.0mm, 1.27mm (含「替代封装」)
▓ BGA 封装：0.75 mm, 0.80 mm, 1.0 mm, 1.27 mm,
這些夾具還配有通孔測量試片，用於消除 PCB 對測量結果的影響。
可用測試夾具
▓ 接觸器/插座：0.5mm, 0.65mm, 0.75mm, 0.8mm, 1.0mm, 1.27mm (含「替代封裝」)
▓ BGA 封裝：0.75 mm, 0.80 mm, 1.0 mm, 1.27 mm, 0.80 x 1.00 mm
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