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微纳米级四探针电阻率测量系统
微纳米级四点探针可直接测量薄膜材料的薄层电阻和电阻率；
Xallent四点探针和纳米探针可用于提取新型材料的电性能,如石墨烯、二硫化钼、其他2D和拓扑材料。
与Xallent探针头或探针相结合，四点探针可在微尺度和纳米尺度上实现快速、经济高效的自动样品标测
微纳米级四探针电阻率测量系统--4-Point Probe
Xallent四点探针可直接测量薄膜材料的薄层电阻和电阻率
Xallent的四点探针帮助材料研究人员解决了关键问题
◢ 特点：
● 无需样品制备：
消除了在进行电测试之前使用昂贵且破坏性的光刻、蚀刻和沉积技术在薄膜上图案化和沉积金属电极的需要
●易于接触有效测试：
小尺寸的探针为在微纳米尺度上快速有效地测试材料开辟了新的领域。
●分辨率：
Xallent的细间距四点探头提供了必要的空间分辨率，以揭示材料的表面导电性分布，从而实现可靠性和产量的目标优化。
◆ Xallent的4点探针技术：
● 将4个弹簧探针集成在单个芯片衬底上
● 芯片由XYZ定位器找到确定的位置和方向
● 4个探针尖端同时与样品表面接触
● 使用单个定位器移动4个探头，可增加测量产量；并消除检测过程中探头之间的碰撞
◆ Xallent四点探针和纳米探针可用于提取新型材料的电性能,如石墨烯、二硫化钼、其他2D和拓扑材料。
与Xallent探针头或探针相结合，四点探针可在微尺度和纳米尺度上实现快速、经济高效的自动样品标测
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