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通用阵列IC测试插座
多功能通用阵列 IC 测试插座
专为BGA, LGA, WLCSP, 芯片级封装和其他具有相同间距但引线框架尺寸不同的阵列 IC 封装而设计; 支持多种封装进行精确, 高效的测试
准备好简化您的测试流程了吗？
多功能通用阵列测试插座
专为BGA, LGA, WLCSP, 芯片级封装和其他具有相同间距但引线框架尺寸不同的
阵列 IC 封装而设计; 支持多种封装进行精确, 高效的测试
◆特色
- 多功能性
支持具有通用间距的BGA, LGA, WLCSP和芯片级封装；极细间距低至≤ 0.3mm - 客制化与精确对准
特定于装置的对准功能透过将被测组件(DUT)与引脚数组的A1角完美对准来确保准确的测试 - 盖子选择
用于快速封装切换可调夹式盖, 用于故障分析的开顶旋紧盖,WLCSP 装置的蓝宝石窗盖….等
- 成本效率
使用单一插座测试整个系列的零件，从而降低测试成本
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