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RTI-- IC 测试夹具
IC test socket，为小型设备（如BGA、LGA、QFN、QFP、WLCSP、CSP、裸芯片等）设计和构建测试插座
拥有各式各样的测试插座来支持用户指定的测试应用程序，包括ATE，老化，特性描述，设备程序设计，故障分析，生产测试...等等
Robson Technologies, Inc（RTI）
专为半导体及高科技行业设计提供定制测试解决方案
RTI于1989年开始为半导体行业设计和构建定制测试解决方案，在半导体市场有丰富的经验，设计和制造先进的测试插座，夹具，
以及半导体制造商要求的其他解决方案定制化设计IC test socket，为小型设备（如BGA、LGA、QFN、QFP、WLCSP、CSP、裸芯片等）设计和构建测试插座
拥有各式各样的测试插座来支持用户指定的测试应用程序，包括ATE，老化，特性描述，设备程序设计，故障分析，生产测试...等等
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