Xallent INC.設計、開發、製造和銷售最先進的微納米探測測量硬體和軟體工具。

Xallent的專利探針卡、探針頭和晶圓探針用於半導體器件和薄膜材料的成像、電氣和機械測試中要求最苛刻的應用。

隨著電子行業將設計前沿推到5 nm、3 nm和1 nm高級節點，Xallent技術使業界領先的研究實驗室和生產設施能夠以更高的精度、速度和更低的成本顯著提高其測量和分析能力。

納米探針/探卡 產品應用於：

微薄板電阻測試（10μm間距）/   MicroLED測試（20μm間距）

Xallent 專爲各項技術領域應用設計開發提供【納米級 探針/探卡】探測解決方案---

Xallent 探針頭可以適用各大廠牌連接到許多傳統晶圓探針的探針座上

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