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GTL5050雙面探測旋轉探針台
GTL5050探測器站是為了解決雙面探測的難題而設計的，而不是試圖用一個垂直安裝的板來探測。
GTL5050實際上是由兩個探測站組成的。上部探測站和底部探測站具有獨特的能力，可將整個探測站旋轉180度，允許快速設置和預配置頂部和底部的探針和測試結構。
領先於半導體業界信號完整性探針台設備供應商
GTL5050探測器站是為了解決雙面探測的難題而設計的，而不是試圖用一個垂直安裝的板來探測，
GTL5050實際上是由兩個探測站組成的。上部探測站和底部探測站具有獨特的能力，
可將整個探測站旋轉180度，允許快速設置和預配置頂部和底部的探針和測試結構。
使用操縱杆控制的電動定位器可以很容易地進行底部調整。
◢GTL雙面探測旋轉探針台特徵：
■自上而下測量 ■獨特的板夾系統簡易方便容納平面和三維結構，如主機板與子卡
■30英寸x 20英寸測試板 ■處理多板互連、BGA封裝、測試插座、接觸器等
■底部變焦鏡頭和CCD相機 ■操縱杆控制的遠端定位器（探針座），用於精確的底部探頭放置
■可選的微CCD相機提供視覺訪問和探針放置在有限的空間
■在頂部和底部安裝多個探針定位器，用於串擾測量
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