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GTL 40&65系列射頻/微波探針
GTL微波探針用於探測晶圓、封裝、BGA、PCB、插座、背板、高密度互連等，具有優越的電氣性能和無與倫比的耐用性；
GTL探測器具有很高的耐受性，堅固的探針頭允許它們反復針測，並獲取高品質的資料
GigaTest Labs（GTL）設計和製造了信號完整性行業中最高品質的微波探針，擁有一系列各種間距的款式，以適應用戶不同的需求
專爲PCB板針測（PCB Probing）設計的耐用型射頻/微波探針
◢GTL -單頭射頻探針
GTL微波探針用於探測晶圓、封裝、BGA、PCB、插座、背板、高密度互連等，具有優越的電氣性能和無與倫比的耐用性；
GTL探測器具有很高的耐受性，堅固的探針頭允許它們反復針測，並獲取高品質的資料
◢深通道射頻探針（DA）
GTL微波探針是器件表徵和建模的完美工具，GTL探測器具有很高的耐受性，堅固的探針頭允許它們反復針測並獲取高品質的資料。
深通道射頻探頭（DA）其的特點是更高的間隙和更長的形體，允許用戶探測更深入;
這款DA探針體設計允許在探針頭支架上旋轉，使探針體可達到的探測範圍更廣。
◢雙射頻探針
GTL獨特的射頻雙探針設計，因為它有兩個探針頭安裝在一個形體支架上，並允許信號到信號的間距變化;
一個探針頭固定在探頭體上，另一個是可調的，以提供不同的信號到信號間距。
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