- 繁體中文
- English
- 簡體中文
Burn- In 老化測試插座
RTI 以提供強大的老化測試解決方案而自豪, 專為在極端測試環境下實現高性能和可靠性而設計;
應對包括高溫, 高濕和HAST(高加速應力測試)應用在內的嚴苛條件而設計的解決方案;
採用彈性材料和優質不銹鋼彈簧針製成, 確保在封裝IC和客製化PCB模組中長期信賴的性能; 創新溫度感測插座解決方案專為用戶裝置而設計, 與現有的設備系統完全相容, 可最大限度地提高測試精度, 同時最大限度地減少停機時間。
經過機械加工的測試插座非常適合對任何封裝積體電路 (IC)、晶圓級晶片尺寸封裝 (WLCSP) 或客製化模組裝置進行認證, 確保最高水準的可靠性和準確性。
用於 HAST（Highly Accelerated Stress Test）, 高溫和可靠性測試的客製化老化測試座
專為在嚴苛, 高壓力環境下獲得一緻結果而設計
RTI 製造的老化測試插座，專為在極端測試環境下實現高性能和可靠性而設計;
專為應對包括高溫, 高濕和 HAST (高加速應力測試) 應用在內的嚴苛條件而設計的解決方案;
這些插座採用彈性材料和優質不銹鋼彈簧針腳製成, 確保用戶在封裝 IC 和客製化 PCB 模組上獲得值得信賴的長期性能。
創新的溫度感測插座解決方案專為您的設備打造, 並與您現有的烤箱系統完全相容，可最大限度地提高測試精度，同時最大限度地減少停機時間;滿足您最嚴苛的老化測試需求。
▪ 無法比擬的耐用性
RTI的老化測試座經過精心設計，可承受從標準 120°C 到超過 200°C 的極端溫度；
在最嚴苛的 HAST 和可靠性測試環境中都能提供可靠的性能。
▪ 元件級溫度監控
整合式熱感測器和散熱器與被測元件 (DUT) 直接接觸，與環境烤箱感測器相比，可在裝置層級提供更快、更準確的溫度讀數；
非常適合受控老化板設計
▪ 節省空間的設計
每個老化板可測試更多裝置；
RTI的半客製化插座提供單點和多點配置，以優化電路板空間並支援更高容量的老化測試.
▪ 易於維護
RTI設計的壓接式測試插座包含可更換的不銹鋼彈簧針，額定插拔次數可達數萬次；
確保了插座觸點在重複使用過程中的磨損，並具有長期耐用性
聯絡我們, 了解更多多點自訂選項, 並確定每個插座的最佳測試點數量
~歡迎來電/來函諮詢~
SE Technologies, See Your Needs！
+886-3-579-9029 
info@se-group.com
複製產品鏈接
長按圖片保存/分享
詢盤
詢盤
關於我們
Copyright @SE TECHNOLOGIES CORP.
客服1
客服2