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帶轉換套件的晶片級測試插座
平頂插座可轉換 (FTSC)
帶轉換套件的晶片級測試插座
RTI 的晶片級測試插座專為故障分析, 手動測試應用以及 SIL 和 EMMI 等高級檢測技術而設計。這些插座採用開放式頂部設計，可直接存取裝置，並支援輕鬆回流到 PCB 試片板上的被測裝置 (DUT)。
帶轉換套件的晶片級測試插座 平頂插座可轉換 (FTSC)
■ 專為故障分析, 手動測試應用以及SIL和EMMI等高級檢測技術而設計
■ 採用開放式頂部設計, 可直接存取裝置
■ 靈活的設置無需更換插座硬體即可提供完整的光學和電氣訪問，保持一緻性
■ 使用相同的測試座主體來測試回流到 PCB 試片板上的裝置和獨立封裝的 IC
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