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GigaTest 客製化測試夾具
GTL 客製化測試夾具
針對半導體封裝和測試接觸器等常用的高速元件, GTL開發了一款客製化測試夾具, 可根據 GigaTest 的方法和要求, 使用高頻寬微探針測量幾乎任何 I/O 引腳。
GTL 客製化測試夾具, 通常為雙層或多層精密PCB,並帶有用於連接被測元件 (DUT) 的安裝焊盤。
GigaTest 客製化測試夾具
針對半導體封裝和測試接觸器等常用的高速元件, GTL開發了一款客製化測試夾具, 可根據 GigaTest 的方法和要求, 使用高頻寬微探針測量幾乎任何 I/O 引腳。
GTL 客製化測試夾具, 通常為雙層或多層精密PCB,並帶有用於連接被測元件 (DUT) 的安裝焊盤。
▓ 應用於BGA封裝, 樣品焊接到電路板上;
▓ 對於彈簧針接觸器和測試插座，樣品用螺絲固定，並透過對準孔確保與夾具正確接觸。
▓ 從測試板的“背面”進行探測，其中過孔焊盤周圍有接地平面
▓ 此探針引入設計用於相容 450μ 間距的 接地/訊號探針, 並為 TDR 和 VNA 測量提供非常好的訊號引入。
這些夾具還配有通孔測量試片，用於消除 PCB 對測量結果的影響。
可用測試夾具
▓ 接觸器/插座：0.5mm, 0.65mm, 0.75mm, 0.8mm, 1.0mm, 1.27mm (含「替代封裝」)
▓ BGA 封裝：0.75 mm, 0.80 mm, 1.0 mm, 1.27 mm, 0.80 x 1.00 mm
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