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WL-310-LE 12寸晶圓探針台
WL-310-LE 12寸晶圓探針台
◆ 特點/優勢
多用途， 專為各種應用設計
包括：故障分析、射頻和毫米波晶圓級可靠性和裝置特性分析。
■ 專為先進的 EMI/RFI/光密屏蔽而設計。
■ 溫度範圍：-60 °C 至 +300 °C
WL-310-LE 12英寸晶圓 手動探針台
Signatone WL-310-LE 300 mm Manual Probe System with Local Enclosure
For reliable and accurate DC/CV, RF and mmW measurements
◆ 特性/優勢
多用途，專為各種應用設計
包括：故障分析、射頻和毫米波晶圓級可靠性和裝置特性分析。
◆ 本地外殼屏蔽罩，實現精準測量
■ 專為先進的 EMI/RFI/光密屏蔽而設計。
■ FemtoAmp 低洩漏能力
■ 溫度範圍：-60 °C 至 +300 °C
◆ 人體工學和可選配置
■ 位於偵測器右前方(遠離熱卡盤) 的 X-Y 平台旋鈕易於使用。
■ 提供多種配置
包括各種卡盤選項, DC/RF/毫米波微定位器, 顯微鏡, 相機, 雷射器, 適用於各種應用
■ 系統配置中包含本機外殼屏蔽罩
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