- 繁體中文
- English
- 簡體中文
微米薄膜電阻量測系統
微米薄膜電阻量測系統
使用 SAKYIWA 奈米探針台, 搭配 10 微米間距四點探針; 並採用雙模式
(Dual-configuration)的架構來精準量測薄層電阻
Micro-Sheet Resistance Measurements
微米薄膜電阻量測系統
使用 SAKYIWA 奈米探針台, 搭配 10 微米間距四點探針;
並採用雙模式 (Dual-configuration)的架構來精準量測薄層電阻
這套系統的應用非常廣泛，它能針樣品進行高效率的局部薄膜電阻特性分析與分布圖繪製。對於樣品支援已圖案化的晶圓，未圖案化的基底與研發階段常見的碎片。
根據客戶樣品厚度, 從Xallent四探針卡產品組合中選擇合適的探針卡, 以滿足測試需求；
NanoProber 的模組化架構支援未來升級, 以支援CV, RF, 掃描探針和光學檢測等模式
SE Technologies, See Your Needs！
歡迎來電/來函諮詢~索取產品資料
info@se-group.com 
+886-3-579-9029
複製產品鏈接
長按圖片保存/分享
詢盤
詢盤
關於我們
Copyright @SE TECHNOLOGIES CORP.
客服1
客服2