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WL250/250LE 半自動探針台
WL-250 200毫米半自動探針台
--專為各種晶圓上分析與半自動生產應用設計，可靠和準確的RF-mmW THz, DC/CV和高功率測試測量
◆規格與應用
高達110GHz的射頻應用2和4埠設置
mmW 110GHz-1.5THz 2埠
直流, CV/IV,脈衝-IV應用
高達12KV/600A的大功率應用
環境溫度, 高溫(+300°C)及高溫/低溫(-60°C至+300°C)配置
專為高級EMI/RFI/光密遮罩而設計
WL-250 200毫米半自動探針台
--專為各種晶圓上分析與半自動生產應用設計
可靠和準確的RF-mmW THz, DC/CV和高功率測試測量
◆規格與應用
■ 高達110GHz的射頻應用2和4埠設置
■ mmW 110GHz-1.5THz 2埠
■ 直流, CV/IV,脈衝-IV應用
■ 高達12KV/600A的大功率應用
■ 環境溫度, 高溫(+300°C)及高溫/低溫(-60°C至+300°C)配置
■ 專為高級EMI/RFI/光密遮罩而設計
■ 支持持4個RF+2個DC或8個直流微型定位器和4.5“寬探針卡
提供多種配置—
各種卡盤選項, DC/RF/高功率定位器,電腦輔助探頭,顯微鏡, 相機, 用於各種應用的雷射器、
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