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坚持超过50年工匠精神 专业 .高质量. 探针台设备制造
自1968年以来，Lucas-SIGNATONE设计并制造了用于测量半导体片电阻率的四点探测设备，四点探针测量系统已应用于各种材料研究应用，测量各种衬底上的薄膜。
SIGNATONE Pro4四点探针电阻率测量系统为薄片和体电阻率测量提供了简单的答案，为了进行测量，用户将四点探针头降低到样品上，然后搭配选择软件中的测试按钮，计算机自动控制仪器，并逐步通过一些电流设置，以找到准确读数的理想电流，进行V/I测量并记录，该系统采用ASTM标准F84-99的双配置测试方法，以补偿探头间距误差和靠近导电层边缘引起的误差。
在量测 100 毫米，125 毫米，150 毫米，200 毫米，300 毫米的待测样品时,可设定自动测量9，25，49或 121 个测试点，
系统使用四点探针，双架构测试方式,并整合了目前最佳的测量仪表可达到在 1mΩ/ 至 2MΩ/ 间小于 1% 的误差
◢ΩPro电阻率测量系统与SIGNATONE硬件(如：探针台，探针，探针座……)搭配结合应用，以实现所需的测量值。
ΩPro电阻率测量系统解决方案应用于---
■ 用共线四点探针测量绘制薄膜的薄层电阻图
■ 精密共线四点探针薄膜电阻的温度系数
■ 使用2点Kelvin probes和精密表面温度探针的电阻精密温度系数
■ 使用Kelvin probes或探针卡对多个电阻器进行标准TCR测试
■ 精确的电阻测试温度系数
■ 使用单个探针对Vander Pau微结构或薄膜进行 Vander Pau 四点测量。
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