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QuadProII 自动电阻率测量系统
QuadProII是专为满足硅片、薄膜、太阳能电池和各种应用的研究需求而设计的;通常用于帮助确定薄膜沉积过程，沉积在晶圆或衬底上的薄膜和厚薄膜可以被精确地映射;
坚持超过50年工匠精神 专业 .高质量. 探针台设备制造
自1968年以来，Lucas-SIGNATONE设计并制造了用于测量半导体片电阻率的四点探测设备,四点探针测量系统已应用于各种材料研究应用，测量各种衬底上的薄膜。
QuadProII是专为满足硅片、薄膜、太阳能电池和各种应用的研究需求而设计的;
此外，QuadProII通常用于帮助确定薄膜沉积过程，沉积在晶圆或衬底上的薄膜和厚薄膜可以被精确地映射;
◢QuadProII 电阻率测量系统提供：
■测量电阻、电阻率或厚度
■ 报告平均、标准最小偏差，最大和1Sigma数据集
■ 温度系数电阻值(TCR)综合测量，温控chuck 和source meter
■ 自动2D彩色等高线图，3D和横截面映射
■ 采用双重标准配置测试改进的方法具准确性和可重复性
■ 测试样品10mm至300mm
■ P/N Typing &Comparative Mapping
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