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纳米级 探针/探卡
创新的纳米机电系统(NEMS)和MEMS多尖端探针能够在微尺度和纳米尺度上表征材料和器件，提供前所未有的产量、多功能性和易用性。探针尖端显着减小了宽度、间距和尖端表面积，实现IC设计，具有小40倍的test pad pitch
纳米级 探针/探卡 加速您的生产效能
创新的纳米机电系统(NEMS)和MEMS多尖端探针能够在微尺度和纳米尺度上表征材料和器件，提供前所未有的产量、多功能性和易用性。
Xallent制造的参数化探针技术：
● 多个探针集成在一个芯片基板上
● 芯片连接到PCB上，形成探针卡
● 探针尖端显着减小了宽度、间距和尖端表面积，实现IC设计，具有小40倍的test pad pitch
● 多项目晶圆(MPW)中降低模具成本
● 弹簧承载的探针尖端支持探测3D结构和沟槽允许快速、准确地探测设备。
Xallent 专为各项技术领域应用设计开发提供—【纳米级 探针/探卡】探测解决方案
Xallent 探针头可以适用各大厂牌连接到许多传统晶圆探针的探针座上
先进设备 尽在双程
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