SIGNATONE自1968年以来, 就已经开始提供四点探针电阻率测量系统, 其中的Pro4系列手动四点探针台,提供了简易且方便测量----
片电阻率( Sheet Resistivity)与体电阻率(Bulk Resistivity)的有效方法;
软件系统会自动控制Keithley 2450/2600系列,并逐步执行多个电流设定以找到准确读数的理想电流,进行V/I测量并记录。

自1968年以来, SIGNATONE 设计并制造了用于测量半导体片电阻率的四点探测设备, 四点探针测量系统已应用于各种材料研究应用, 测量各种衬底上的薄膜。
SIGNATONE Pro4 四点探针电阻率测量系统为薄膜和体电阻率测量提供了简单的答案, 为了进行测量, 用户将四点探针头降低到样品上, 然后搭配选择软件中的测试按钮, 计算机自动控制仪器, 并逐步通过一些电流设置, 以找到准确读数的理想电流, 进行 V/I 测量并记录, 该系统采用 ASTM 标准 F84-99 的双配置测试方法, 以补偿探头间距误差和靠近导电层边缘引起的误差。
◆ 准确的电阻率测量, Pro4支架包含多种功能----
◆ Pro4 Software
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